LB-820 UV-Vis NIR സ്പെക്ട്രോഫോട്ടോമീറ്റർ

ഉപകരണ സവിശേഷതകൾ

ഇരട്ട ബീം ഒപ്റ്റിക്കൽ സിസ്റ്റത്തിന്റെ രൂപകൽപ്പന പശ്ചാത്തല ഇടപെടൽ കുറയ്ക്കുകയും പരിശോധന കൃത്യത മെച്ചപ്പെടുത്തുകയും ചെയ്യുന്നു.

ഉപകരണത്തിന്റെ റിസീവർ ഭാഗങ്ങൾ എല്ലാം ഇറക്കുമതി ചെയ്ത ഉപകരണങ്ങളാണ്, ഇത് ഉപകരണത്തിന്റെ ഉയർന്ന പ്രകടനവും സ്ഥിരതയും ഉറപ്പാക്കുന്നു.

ഉപകരണത്തിന്റെ നിയന്ത്രണം (ഗ്രേറ്റിംഗ് കൺവേർഷൻ, ഫിൽട്ടർ കൺവേർഷൻ, റിസീവർ കൺവേർഷൻ, തരംഗദൈർഘ്യ സ്കാനിംഗ് മുതലായവ) എല്ലാം കമ്പ്യൂട്ടറാണ് നിയന്ത്രിക്കുന്നത്, ഇന്റർഫേസ് USB2.0 ആണ്. ഉപകരണത്തിന്റെ കണക്ഷൻ ലളിതമാണ്, ഇത് ആശയവിനിമയ വേഗത വളരെയധികം മെച്ചപ്പെടുത്തുന്നു.

ബിൽഡിംഗ് ഗ്ലാസിന്റെ ദൃശ്യപ്രകാശ പ്രക്ഷേപണം, നേരിട്ടുള്ള സൂര്യപ്രകാശ പ്രക്ഷേപണം, നേരിട്ടുള്ള സൂര്യപ്രകാശ പ്രതിഫലനം, മറ്റ് അനുബന്ധ പാരാമീറ്ററുകൾ എന്നിവ സ്വയമേവ കണ്ടെത്തുന്നതിന് സംയോജിത ഒപ്റ്റിക്കൽ ടെസ്റ്റ് സിസ്റ്റം സോഫ്റ്റ്‌വെയർ തിരഞ്ഞെടുക്കാനാകും.

ഗ്ലാസ് ഹെമിസ്ഫെറിക്കൽ എമിസിവിറ്റി ഡിറ്റക്ടറുമായി സഹകരിച്ച് സൗരോർജ്ജത്തിന്റെ ആകെ പ്രക്ഷേപണവും വിവിധ വിൻഡോ ഗ്ലാസ് ഘടകങ്ങളുടെ സൗരോർജ്ജ വികിരണ താപത്തിലേക്കുള്ള ഷീൽഡിംഗ് ഗുണകവും ലഭിക്കും.

പ്രത്യേക സാമ്പിൾ ടെസ്റ്റ് ആക്സസറികൾ തിരഞ്ഞെടുക്കാം.

ടെക്സ്റ്റ് ഫോർമാറ്റിൽ ഡാറ്റ ഇറക്കുമതി ചെയ്യാൻ കഴിയുന്ന ഇറക്കുമതി ഫംഗ്ഷൻ സോഫ്റ്റ്‌വെയർ സജ്ജമാക്കുന്നു.

സാമ്പിൾ ഡാറ്റയുടെ തത്സമയ അളവ്, പരിശോധനാ ഫല ഡാറ്റ കയറ്റുമതി ചെയ്യാൻ കഴിയും.

WinXP, win7 സിസ്റ്റങ്ങളിൽ സോഫ്റ്റ്‌വെയർ പ്രവർത്തിക്കാൻ കഴിയും.

സ്പെസിഫിക്കേഷൻ പാരാമീറ്ററുകൾ

1. പ്രകാശ സ്രോതസ്സ്: ഇറക്കുമതി ചെയ്ത ഡ്യൂട്ടീരിയം വിളക്ക്, ടങ്സ്റ്റൺ ബ്രോമൈഡ് വിളക്ക്

2. തരംഗദൈർഘ്യ പരിധി (nm): 190-3200nm

3. തരംഗദൈർഘ്യ കൃത്യത (nm): ± 0.5 (UV / VIS); ± 4 (NIR)

4. തരംഗദൈർഘ്യ ആവർത്തനക്ഷമത (nm): ≤ 0.3 (UV / VIS); ≤ 2 (NIR)

5. ബാൻഡ്‌വിഡ്ത്ത് (nm): 0.2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. ട്രാൻസ്മിറ്റൻസ് കൃത്യത (% t): ± 0.3

7. ട്രാൻസ്മിഷൻ നിർദ്ദിഷ്ട ഗുരുത്വാകർഷണ റീഫോൾഡിംഗ് (% t): ≤ 0.2

8. വഴിതെറ്റിയ വെളിച്ചം (% t): ≤ 0.2% t (220nm, NAI)

9. പ്രവർത്തന രീതി: പ്രക്ഷേപണം, ആഗിരണം, പ്രതിഫലനം, ഊർജ്ജം

10. സോഫ്റ്റ്‌വെയർ ഫംഗ്‌ഷൻ: ഉപഭോക്താക്കളുടെ ഇഷ്ടാനുസരണം, ടെസ്റ്റ് സാമ്പിളിന്റെ ട്രാൻസ്മിറ്റൻസ്, ആഗിരണം, കേവല പ്രതിഫലനം എന്നിവ അളക്കുന്നതിന് അനുബന്ധ ടെസ്റ്റ് ഇന്റർഫേസ് ഫംഗ്‌ഷൻ ഇഷ്ടാനുസൃതമാക്കാവുന്നതാണ്.

11. സാമ്പിൾ ഇടവേള: 0.1nm, 0.2nm, 0.5nm, 1nm, 1.5nm, 2nm, 5nm, 10nm

12. ഫോട്ടോമെട്രിക് ശ്രേണി: 0 ~ 2.5A

13. ബേസ്‌ലൈൻ ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ്: ± 0.004a (200-2500nm, 30 മിനിറ്റ് നേരത്തേക്ക് ചൂടാക്കിയ ശേഷം)

14. ഹോസ്റ്റ് ഇന്റർഫേസ്: USB2.0

15. അളവ് (മില്ലീമീറ്റർ): (ആകൃതി) 830 * 600 * 260, (സാമ്പിൾ റൂം) 120 * 240 * 200

16. ടെസ്റ്റ് സാമ്പിൾ സ്പെസിഫിക്കേഷൻ (മില്ലീമീറ്റർ): 30 ~ 110, കനം ≤ 20

17. ഭാരം (കിലോ): ഏകദേശം 65

18. അടിസ്ഥാന കോൺഫിഗറേഷൻ:

യുവി വിസ് എൻഐആർ സ്പെക്ട്രോമീറ്റർ ഹോസ്റ്റ്, യുഎസ്ബി ഡാറ്റ കേബിൾ, ക്വാർട്സ് കുവെറ്റ്, സീറോ ബ്ലോക്ക്, ആപ്ലിക്കേഷൻ സോഫ്റ്റ്‌വെയർ, സപ്പോർട്ടിംഗ് ടൂളുകൾ മുതലായവ (ഒരു കൂട്ടം സോളിഡ് ആക്‌സസറികളും ലിക്വിഡ് ആക്‌സസറികളും സ്റ്റാൻഡേർഡാണ്)

ഗ്ലാസ് കോംപ്രിഹെൻസീവ് ഒപ്റ്റിക്കൽ ടെസ്റ്റ് സിസ്റ്റം സോഫ്റ്റ്‌വെയർ ഓപ്ഷണലാണ്.

*ഉപയോക്താക്കൾ സ്വന്തമായി കമ്പ്യൂട്ടറുകളും പ്രിന്ററുകളും നൽകണം.

തിരഞ്ഞെടുക്കുകഅയോണൽ ആക്‌സസറികൾ

Zf820-1 ഇന്റഗ്രേറ്റിംഗ് സ്ഫിയർ ആക്സസറികൾ

Φ 60mm, 380-2500nm വ്യാസമുള്ള ഇരട്ട ഡിറ്റക്ടറുകൾ

Zf820-2 സോളിഡ് സാമ്പിൾ അളക്കൽ ഉപകരണങ്ങൾ

ക്ലാമ്പിംഗ് ലെൻസിന്റെ പരിധി: വ്യാസം: Φ 10-36mm; കനം: 0.5-10mm

Zf820-3 പ്രതിഫലന അളക്കൽ ആക്സസറി

സംഭവ കോൺ 5 ഡിഗ്രിയാണ്, പ്രതിഫലന സ്പെക്ട്രം അളക്കുന്നത്

സോഫ്റ്റ്‌വെയർ

ഉപകരണത്തിന്റെ പ്രവർത്തന സോഫ്റ്റ്‌വെയറിന് സമ്പന്നമായ പരിശോധന, വിശകലന പ്രവർത്തനങ്ങൾ ഉണ്ട്, ഇത് പ്രക്ഷേപണം, ആഗിരണം, ഊർജ്ജം, പ്രതിഫലനം എന്നിവ അളക്കാൻ കഴിയും. സ്പെക്ട്രം സ്കാനിംഗ്, ഫിക്സഡ്-പോയിന്റ് അളക്കൽ, മൾട്ടി വേവ്ലെങ്ത് മെഷർമെന്റ് എന്നീ പ്രവർത്തനങ്ങൾ ഇതിന് ഉണ്ട്.